该型号进口FAST SDD测镀层厚度测金仪光谱仪( XRF)专为镀层材料成分分析和镀层厚度测量而设计，其主要应用场景包括印刷电路板（PCB）镀层厚度测量和金属电镀层分析。

产品介绍

该型号进口FAST SDD测镀层厚度测金仪光谱仪( XRF)专为镀层材料成分分析和镀层厚度测量而设计，其主要应用场景包括印刷电路板（PCB）镀层厚度测量和金属电镀层分析。

- 测量对象包括镀层、涂层、层压材料、化学形成的薄膜等。

- 它能够测量各种金属镀层的厚度，如离子镀、电镀和气相沉积。

- 适用于测量钢材上的防腐镀层，如镀铬层和镀锌层。

- 测量电路板和柔性印刷电路板（PCB）上的镀层，以及插头和电触点的接触面。

- 它可用于分析贵金属镀层，如金基底上的铑材料。

- 分析电子和半导体行业中的功能性镀层。

- 分析硬质材料涂层，如CrN、TiN或TiCN。

产品特点
进口FAST SDD测镀层厚度测金仪光谱仪( XRF)

- 全新的朝下一体化设计，操作便捷。

- 内置高清摄像头，可观察和选择微小的镀层区域，避免直接接触造成的污染或损坏。

- 该软件配备了距离校正算法，可对不规则样品进行精确测试。

- 可提供用于涂层厚度测量和成分分析所需的各种标准样品。

- 采用FAST SDD探测器，具有高计数范围和出色的能量分辨率。

- 微点垂直光路：专为涂层厚度分析设计，适用于分析不规则样品的厚度。

- FP无标分析软件：标配齐全，能够同时测量多层和单层涂层的厚度和材料成分。

- 选配高精度手动X-Y平台，微区测量变得更加便捷，操作也更加灵活。

产品参数

苏州源银科技有限公司专注于分析仪器领域的一站式解决方案。我们致力于为客户提供优良可靠的测试服务和设备，以满足不同行业严格的检测要求。

源银产品线涵盖从便携式分析仪到大型实验室级检测设备。我们对分析技术进行深入研究，不断探索和开发新的检测方法和仪器，确保我们的产品和服务始终处于行业前沿。

作为行业优秀企业，源银科技汇聚了一批高素质、专业化的技术团队，他们拥有深厚的专业背景和丰富的实践经验，能够为客户提供全面的技术支持和咨询服务。源银科技已与来自50多个国家的客户建立了业务关系，凭借可靠的质量、有竞争力的价格和优质的服务，赢得了良好的声誉。